AI驱动半导体测试设备价值重估加速
一份研报观点认为,AI基础设施扩张从更多芯片、更复杂芯片、更多测试三个维度拉动设备需求。AI服务器和云厂商自研ASIC扩大高端逻辑芯片测试基数,Chiplet与先进封装使测试对象从单颗裸片升级为多Die系统,测试资源配置和插入点显著增加。 研报指出,测试正从单纯成本环节转变为降低先进封装系统总成本的关键手段。提高测试覆盖率虽增加单次费用,却能大幅减少坏Die导致的整体报废损失。随着HBM堆叠、高速接口及封装价值提升,高端测试平台配置将向更多通道、更高规格硬件演进,单颗测试价值量有望明显上升。 研报认为,行业竞争将从分散单品竞争走向平台化整合,核心平台能力、客户验证积累和量产交付体系成为关键。具备综合TestCell平台、头部客户验证且能向分选机、接口件、SLT等领域延伸的厂商,将提升单客户价值量。长川科技在数字SoC测试向综合平台扩展上基础扎实,华峰测控在模拟与功率测试领域优势突出,联动科技有望依托功率测试优势拓展边界。 在AI驱动下,半导体测试设备行业结构性增长态势明确,相关平台型厂商发展空间持续打开。 中财网
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